Rasterelektronenmikroskopie

Unser Labor ist mit einem SH 5000 der Firma Hirox ausgestattet.
Dieses REM-Analysegerät ermöglicht in Kombination mit einem Flash 630 M EDX-System der Firma Bruker eine hervorragende Elementanalyse. Das umfangreiche Zubehör ermöglicht uns eine ortsaufgelöste qualitative Analyse und Identifizierung von bekannten und auch unbekannten Materialien. Mit dem Detektor für Sekundarelektronen ergeben sich tiefenscharfe topographische Aussagen. Durch den Backscattered-Elektronen-Detektor können Materialkontraste dargestellt werden. Eine integrierbare Cooling-/Heating-Stage und einen Niedervakuummodus ermöglichen die Analyse von organischen Matrialien.

Technische Daten

o Beschleunigungsspannungen: 5, 10, 15, 20, 30 kV
o Elektronenquelle: Wolfram-Kathode
o Detektoren: SE, BSE, EDX
o Vergößerung: 30 – 100.000 fach
o Max. Auflösung: 5 nm (30 kV, SE)
o Arbeitsabstand: 8 – 20 mm
o Max. Probengröße: 80 mm Ø, H = 35 mm
o EDX Detektor: Bruker Flash 630 M
o Auflösung: < 133 eV (MnKα)
o Mapping: 4000 x 4000 Pixel
o Cooling/heating: -25°C – 50°C bei 300 Pa

Software

o Quantax Esprit 2.0

Hirox SH 5000